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MT6169 PVT时间掩码测试中的TPC事件定时和修改MIPI TX资料介绍

ANDROID 作者:SZX511 时间:2018-10-09 15:42:49 0 删除 编辑

Modify MIPI TX & TPC event Timing for PVT Time mask test--MT6169


原资料介绍:

1. 調整Timing 的時候,請調到剛好的位置不用留太多margin,太接近boundary 有些CMW500 TX throughput會fail,ex: PA on time =9us 時time mask會fail,PA on time=8us Pass,那就用8us.

2. TDD band 可以先試著把ASM往boundary調。(page.7)

3. PA on的Timing 應該要在TPC之前! (Page.6)

4.因CMW500解調能力較差,請務必試過CMW500 的TX throughput. 

5. BPI 的Timing 請依照PT1 => PT2 => TPC (4us) 的時間順序。


资料包括以下内容:

http://bbs.16rd.com/thread-460163-1-1.html

Step 1: 确认PA on event 是否在最低档位

Step 2: 依照FDD/TDD band 调整event timing

Step 3: Check

Other questions



4.Other questions

1)目前Fail都是在Before off的地方,那么为什么将TX的时间设置为提前打开呢?

---在LTE spec中定义的time mask for PUSCH/PUCCH,ramping时间其实是压到TX data的前面20 us,如果我们完全依据spec设定,TX data就会在每次开window时遭到suffer,导致UL throughput变差(某些解调能力较差的仪器就是会

因为第一个TX symbol的data遭到suffer,就解不出来而导致test fail),可以通过观察Tx 的第一个symbol EVM是否变差来排查 ,所以目前的做法都是在不被仪器检测出违反time mask的前提下,尽早将组件提早开启。


2)哪些参数都可以改善General on/off指标呢?

---PA ON、 TPC ON 及开关的打开时间对于time mask都会有影响,由于不同的PA、matching的不同及走线不同,时间上稍微有差异性,后期可能要依据不同的手机tuning组件的开启时间,目前关于MIPI PA时间及BPI的逻辑状态修改已经在Nvram中开放,后续会进一步开放BPI的时序参数。


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