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图表控件NWA Quality Analyst发布6.3新版本

原创 Linux操作系统 作者:sellen018 时间:2013-10-15 13:18:20 0 删除 编辑
NWA Quality Analys更新至v6.3,包含了12个扩展的分析和报告功能。这些结果来自NWA Focus EMI的开发,使得Quality Analyst拥有更丰富的企业制造智能(EMI)的分析和报告功能等。接下来,跟着小编一起来看看这些新功能吧! 

1、SPC模式规则通过变量选择 

为每个变量选择可控制图表的模式规则。先前,他们选择了全局,通过每个变量只能被设置为开或关。规则已经被定义在Quality Analyst的“设置”中,这使得分析是针对实时和EMI应用的单个过程变量。 

2、其他规格集 

除了为每个变量定义上限(UCL)和下限(LCL)参数和目标值,现在可以为每个变量设置10套规格系列。规格,规格的行为,能力指数显示直方图,报告能力,和异常报告。规格可随意启用或禁用。额外的规格可以是有用的,当被用于不同的目的,如针对不同的客户或不同阶段的制造和包装多种规格。 

3、新增警告和内在限制行为 

违反警告与内在限制,现在可以通过SPC图表独特的绘制字符突出显示,显示异常报告,并在图表中列出。NWG文件可以被其他NWA软件使用。这提供了更灵活的异常报告,实时报告和EMI的应用分析。 

4、从规格绘制字符的SPC图表 

违反上限或下限的规格限制的测量值,现在可以被SPC图表的替代绘图字符和颜色识别出来。此功能仅适用于初级规范限制。这是专为正常的SPC报告和real-time/EMI应用提供的更灵活的分析和可视化。 

5、SPC图表上显示标签数据

标签数据现在可以在控制图上显示,但被排除在控制界限计算和统计分析之外。标记点分别绘制了一个独特的符号和颜色,而不是连接线到未标记的数据。 

6、“数据刷”的SPC图表和其他图形 

相同的数据集的共同点可以在不同图表中突出显示出来,通过使用“数据刷”技术。当SPC图,散点图,运行图,或正态概率图都使用相同的数据集的创建时,一个图表上选择的点会被“刷”其他图表相同的数据集行突出点。 “刷”点可以盘旋上升,有两种颜色可供选择。 

7、图形X轴和Y轴可放大 

选定的图形类型的X和Y轴现在可以被放大。增强散点图,正态概率图,运行图的放大功能。这一点已经作为改进MvSPC的一种方法添加进来,并且对其它图形也是有效的。 

8、双变量散点图多元SPC图表 

当使用多变量模型时,双变量散点图可以产生95%的置信约束和规范限制。双变量散点图可以由QA数据库和多变量RUN命令文件创建。显示多元的SPC图时,双元图可以由变量贡献度Pareto图直接生成。双击多元图表的point时,将显示 贡献度Pareto;右键点击Pareto,将可以选择和比较贡献度居于前两位或前三位的变量。根据选择,还将选一种或者三种双变量散点图。 

9、显示和重新计算“前N行”范围的文件 

“前N行”数据范围现在可用于文件和可变范围,与“后N行”的数据范围一样,必须建立在数据集的行数基础之上。 

10、改进了控制图参数对话框 

控制图参数“图表类型”默认为“个人”图表类型(代替了之前X-bar)。此外,更改所选变量不再改变所选的图表类型。 

11、新的直方图、性能报告和盒图统计 

为直方图、性能报告和盒图设计了新的统计方法 
Sum
Count below LSL
Count above USL
Count outside specifications
Estimated ppm (parts per million) below LSL
Estimated ppm above USL
Estimated ppm outside specifications
Actual ppm below LSL
Actual ppm above USL
Actual ppm outside specifications
Additional specification ID

12、全新的异常报告统计 

异常报告统计中,为每一个图表增加了“数量”和“超出控制百分比”总结。 

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